技术解析

【ODCC】2023存储系统时延问题分析与测量白皮书 pdf
上传用户:闪德君 类别:技术解析
上传时间:2023-11-09 软件大小:3.34 MB 阅读量:509
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资料简介近年来,和 CPU 核数的增加,网卡端口数的增加和带宽的增加, 以及 GPU 运算单元数的增加的技术进步相反,存储系统的时延随着 技术复杂度的增加并没有同等的减少,而且一些新的存储技术的实 现是以时延的增加为代价的。硬盘更高的存储密度导致的对振动的 更加敏感,固态硬盘的每存储单元的电平数的增加导致的写时间延 长都在一定程度上增加了存储系统的时延。  数据中心的时延问题一直被高度重视,一个首要的原因是问题 发生的范围是几千台服务器,数万个存储部件,从几天发生一次到 一天发生几次,这个发生频率是实验室测试中用几个到几百个测试 样品无法测到的。而成为故障的 Latency stall-长尾延时,是一种单 个 IO 的完成时间远大于预期而导致的问题。但是长尾延时问题的定 位以及随后的故障分析,目前业界没有一个系统的测试方法。V 存储系统时延问题分析与测量 ODCC-2023-0500B 存储部件的时延问题是数据中心性能表现的一个基础问题。需 要有一套与时俱进的测试,评估和优化的方法。
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