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SSD 主控芯片 CP 测试你真的知道么? pdf
上传用户:闪德君 类别:技术解析
上传时间:2022-03-04 软件大小:169.42 KB 阅读量:425
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资料简介在芯片测试领域,主要分为两部分测试,业界通俗的叫法是 CP 和 FT,我们今天主要谈谈 CP 的问题。什么是 CP 测试?CP 是(ChipProbe)是缩写,指的是芯片在 foundry 流片回来后, 需要在 wafer level 进行简单的 DC 和功能测试,主要是通过探针卡的探针扎到芯片 PAD 上, 然后通过 ATE 输入激励信号,测试芯片的输出响应。
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