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IC 测试原理-存储器测试 pdf
上传用户:闪德君 类别:技术解析
上传时间:2022-03-04 软件大小:243.34 KB 阅读量:251
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资料简介存储器芯片必须经过许多必要的测试以保证其功能正确。这些测试主要用来 确保芯片不包含以下任何一种类型的错误: 存储单元短路:存储单元与电源或者地短路。存储单元开路:存储单元在写入时状态不能改变。相邻单元短路:根据不同的生产工艺,相邻的单元会被写入相同或相反的数 据。地址开路或短路:这种错误引起一个存储单元对应多个地址或者多个地址对 应一个存储单元。这种错误不容易被检测,因为我们一次只能检查输入地址所对 应的输出响应,很难确定是哪一个物理地址被真正读取。
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