三星HBM芯片因发热问题未通过英伟达测试 ssd新闻存储新闻

2024-05-24

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据《路透》报道，因发热问题，三星高HBM未能通过英伟达测试。

三位消息人士称，自去年以来，三星一直在努力通过英伟达对HBM3和HBM3E的测试。

消息人士透露，最近对三星8层和12层HBM3E芯片的失败测试结果已于4月公布。目前尚不清楚这些问题是否可以轻易解决，但消息人士表示，未能满足英伟达要求增加了业界和投资者的担忧，即三星可能会进一步落后于竞争对手SK海力士和美光。

三星声明中表示，HBM是一款定制内存产品，需要根据客户需求进行优化流程，并补充说，该公司正在通过与客户的密切合作来优化其产品。它拒绝对特定客户发表评论，英伟达也拒绝置评。

分析师表示，三星本周换掉半导体部门负责人，此举似乎凸显了三星对其在HBM中落后地位的担忧，称需要一位新的高层人士来应对影响该行业的「危机」。

KB证券研究部门主管Jeff Kim表示，市场对三星作为全球最大存储芯片制造商能够迅速通过英伟达测试抱有很高的期望，但像HBM这样的专业产品需要一段时间才能满足客户的效能评估也是很自然的。

尽管三星尚未成英伟达的HBM3供应商，但它确实已向AMD供货，2024年第一季，三星HBM3产品陆续通过AMD MI300系列验证，故自2024年第一季以后，三星HBM3产品逐渐放量。

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