据台媒《科技新报》报道,IBM和日本半导体设备商东京电子日前宣布,在3D芯片堆叠方面获得了新的技术突破,成功运用了一种新技术将3D芯片堆叠技术用于12 吋晶圆上。由于芯片堆叠目前仅用于高阶半导体产品,例如高频宽存储(HBM) 的生产。不过,在IBM与东京电子提出新的技术之后,有机会扩大3D芯片堆叠技术的应用。报道指出,3D芯片堆叠技术在当前被视为延续摩尔定律(Moore′s Law) 的利器之一,这使得多家半导体企业公司都在进行努力,期望将「每单位面积」的电晶体数量,转变为「每单位体积的电晶体数量」。而与一般平面结构的晶片相较,3D芯片堆叠允许多层堆叠,而硅穿孔封装(TSV) 就是3D芯片堆叠技术当中的关键。IBM与东京电子新开发的技术,本质上是一种将硅芯片连接在一起的新方法。传统的芯片堆叠需要堆层间的硅穿孔,这可以使得电力向上流入堆叠层,并使两层串联执行工作。但是,这需要削减堆叠层的背面,以露出TSV空间以提供另一层堆叠层透过TSV来连结。只是,堆叠层中的厚度非常薄,通常仅小于100微米。而因为它们的脆弱性,让他们当中需要一个载体芯片来支撑。所以,通常这些载体芯片由玻璃制成。借载体晶圆与晶圆的键合,以确保它可以在生产过程中不受损坏。完成生产后,使用紫外镭射去除载体。在某些情况下,也可以使用载体芯片,但将其进行层与层分离需要物理的机械力来帮助,这对于晶圆的完整性可能是造成风险。因此,在这IBM与东京电子新开发的技术上,将使用红外线镭射来进行层与层分离,进一步剥离两个对硅穿孔的晶片,将能有效的降低破坏晶片完整性的风险。
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