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通孔的形成;
绝缘层、阻挡层和种子层的沉积;
铜的填充(电镀)、去除和再分布引线(RDL);
晶圆减薄;
晶圆/芯片对准、键合与切片。
通孔的刻蚀——激光刻蚀、深反应离子刻蚀;
通孔的填充——材料(多晶硅、铜、钨和高分子导体等)和技术(电镀、化学气相沉积、高分子涂布等);
工艺流程——先通孔或后通孔技术;
堆叠形式——晶圆到晶圆、芯片到晶圆或芯片到芯片;
键合方式——直接Cu-Cu键合、粘接、直接熔合、焊接和混合等;
超薄晶圆的处理——是否使用载体。
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