ZF101把四道测试工序收进一台设备

64通道并行测试  一次上下料完成筛选与十级分Bin

当NAND测试进入批量阶段，真正拖慢产线的，往往不只是单颗颗粒的测试时间。反复上下料、工序间转运、数据分散记录，以及依赖经验的等级判定，都会让效率和追溯能力在细节中被消耗。

ZF101 FLASH自动化测试设备将开卡、快速RDT测试、十级分Bin和下料整合到同一设备中。颗粒一次上料后即可自动完成筛选、分级与数据归档，让批量测试从多工序流转，转变为连续、可追溯的自动化流程。

批量测试为什么容易卡住

一是上下料与转运。

传统流程需要在K1、RDT和分Bin等环节之间反复上下料。人力不仅消耗在搬运上，也消耗在等待、交接和批次确认上。

二是测试数据彼此割裂。

不同工序分别记录结果，批次数据需要人工对齐。一旦出现品质异常，往往难以及时还原颗粒从测试到分级的完整路径。

三是等级判定缺少统一口径。

如果主要依靠经验定级，不同人员、不同批次之间容易出现判断波动，也难以精准匹配PCIe 4.0、PCIe 3.0和SATA产品线的差异化要求。

一次上料完成自动筛选与分级

ZF101基于联芸MAP1602主方案执行FLASH SORTING，配置64个独立测试通道，单次最多可测试64颗132球NAND FLASH，最高支持2400 MT/s I/O速率。

设备通过USB协议配合132 PIN转接板接入颗粒。上料后，开卡、快速RDT、分Bin和下料在同一机柜内自动执行；测试数据、分级结果与报表也由同一软件统一管理。

从上料到报表导出形成连续自动化流程

四项改进让批量测试更顺畅

 十级分Bin让颗粒流向更合适的产品线

RDT完成后，软件可输出颗粒、单Die和单Plane三级FBB数据，并根据测试结果自动划分至1至10级Bin。不同等级可对应不同主控平台与终端产品线，使同一批来料能够按能力分流，减少高等级颗粒被低配使用的情况。

十级分Bin与主控平台及终端产品线对应关系

软件还会同步标注FAIL不良品与NA待复测颗粒，并在主界面实时显示来料数量、已测数量和未测数量，便于现场人员快速掌握批次进度。

覆盖来料检验量产分选与工程验证

来料全检  面向原厂、代理商来料以及模组厂入库前的批量筛查，可按PCIe 4.0、PCIe 3.0和SATA等级输出分布结果，为结算与入库判定提供依据。

量产分选  按十级Bin输出批次分布，为MAP1602、MAP1202、MAS1102等主控匹配相应速率等级的颗粒，让来料流向更适合的产品方案。

工程验证  支持全测RDT LOG读取，用于工艺调试与样品摸底；FBB数据可下钻至单个Die与Plane，辅助定位失效位置与工艺偏差。

一批测试七步完成

系统设置（首次配置） → GPIO与来料设置（换型时） → 放置颗粒 → 插槽上电 → 自动开卡并执行RDT → 读取结果并分Bin → 导出报表后下料。

在颗粒位置保持不变的情况下，上下电仅需一次；后续批次可循环执行后五步。通过远程桌面，还可在同一块屏幕上管理主机与多台从机，进一步提升现场协同效率。

让测试效率和数据价值同步提升

ZF101的核心价值，不只是把多道测试工序放进同一台设备，更在于让测试、分级与追溯形成一套连续的数据链路。对于需要提升批量筛选效率、统一颗粒等级标准并强化品质追溯的存储企业而言，这意味着更少的人工流转、更清晰的批次数据，以及更稳定的量产判断。

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